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直讀光譜儀與X熒光光譜儀有區(qū)別
發(fā)布時(shí)間：2022-09-22 11:03:25 點(diǎn)擊：4435
直讀光譜儀與X熒光光譜儀是兩款原理不同，但是均可應(yīng)用于樣品的含量分析檢測(cè)上，那廠家在選購(gòu)一款合適自己產(chǎn)品前，對(duì)兩款產(chǎn)品的原理多了解一分，就能選購(gòu)更適合自己的檢測(cè)儀器。
X熒光光譜儀的結(jié)構(gòu)原理
當(dāng)X射線打到待測(cè)樣品上，樣品中含那種元素會(huì)散發(fā)出特征X熒光，（原子中的電子都在一個(gè)個(gè)電子軌道上運(yùn)行，而每個(gè)軌道的能量都是一定的，叫能級(jí)。內(nèi)層軌道能級(jí)較低，外層軌道能級(jí)較高，當(dāng)內(nèi)層的電子受到X射線激發(fā)，有足夠的能量跳出內(nèi)層軌道，那么，較外層的電子躍遷到內(nèi)層的軌道進(jìn)行補(bǔ)充，由于是從高能級(jí)上跳往低能級(jí)上，所以會(huì)釋放出能量，其能量以光的形式放出，這就是特征X射線）通過(guò)探測(cè)器放大處理特征X熒光，分析出那種元素，每種元素的特征X熒光強(qiáng)度正比于樣品中該元素的含量，通過(guò)內(nèi)部預(yù)先存儲(chǔ)的校正曲線可測(cè)定其含量，并直接以百分比濃度顯示出來(lái)。
X熒光光譜儀的檢測(cè)臺(tái)
直讀光譜儀的檢測(cè)臺(tái)
直讀光譜儀的結(jié)構(gòu)原理
樣品通過(guò)電弧或火花放電激發(fā)生成原子蒸氣，該蒸氣中的原子與離子被激發(fā)后產(chǎn)生發(fā)射光譜。發(fā)射光譜通過(guò)光導(dǎo)纖維進(jìn)入到光譜儀的分光室中，色散成各光譜波段。根據(jù)每個(gè)元素發(fā)射的波長(zhǎng)范圍，通過(guò)光電倍增管（或電感耦合檢測(cè)器）可以測(cè)量出每個(gè)元素的ZUI佳譜線。每種元素的發(fā)射光譜譜線強(qiáng)度正比于樣品中該元素的含量，通過(guò)內(nèi)部預(yù)先存儲(chǔ)的校正曲線可測(cè)定其含量，并直接以百分比濃度顯示出來(lái)。
GLMY創(chuàng)想儀器，同時(shí)擁有直讀光譜儀與X熒光光譜儀兩款儀器，廣泛應(yīng)用于多領(lǐng)域場(chǎng)景，滿足了更多用戶的檢測(cè)需求。上一篇：ICP光譜分析儀可以應(yīng)用在哪里？ 下一篇：關(guān)于光譜儀分析的基礎(chǔ)，光譜知識(shí)
